覆盖STS8107，和STS8102的所有测试器件，并测试更高速，更高精度，运放，比较器，更大功率的IC达100v或1000v,40A测试要求；

　　可通过FLEX PIN技术灵活运用DC,AC资源，进行更快，更复杂信号产生和测试，可通过时序控制资源的开关时间，并记录校准信息于本板；最大同测数达16位并可扩展。