明日のテクノロジーを切り開く

明日の世界はデータ主導型であり、創造、消費、最適化が絶え間なく繰り返されます。日常業務の効率化から、ダウンタイムを減らす予測まで、データはあらゆる産業をほぼ完璧なパフォーマンスへと導いています。こうのような状況において、半導体の未来は、世界を変革するあらゆる産業の未来と切り離せないものとなっています。

すべてを1つのプラットフォームで

STS8600は、アナログおよびデジタルのパラメータに対応するオールインワンテストプラットフォームであり、特に高出力かつ複雑な多次元チップ向けに設計されました。

テストをシンプルに

テストをシンプルに、ROIを最大化します。最先端のソリューションと強固な研究開発チームにより、お客様の複雑な産業ニーズに応え、最高の歩留まりを実現します。

最適なユースケース

ソリューション

>2,000ch アナログVI

デジタルI/O最大5,000+ch

DPS:最大5,000A

デバイスの特性評価から量産テストまでを強化

最大リソース活用:Analog I/Oカード設計

デザインとテストの壁を打ち破る

スマートメンテナンス

最大のベクトルメモリ

SoC テストシステム詳細

STS8600

System on Chip (SoC)
このシステムは、データセンター、電気自動車、IoTにおける中核的なアプリケーション向けに設計され、FPGA、MCU、ワイヤレス接続に対応する高度なテスト刺激とテスト回路を統合します。さらに、液冷式の次世代テストヘッドによって全面的にサポートされています。​

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