アナログおよびパワーテストシステム
STS8200 CROSS Series
STS8200 AXE-FET
アナログディスクリートおよびウェハテスト
ディスクリートMOSFETs、IGBTs、SiC、GaNに向けた最高並列テストシステムであり、ウェハテストシステムとハードドッキングできます。
TRUE並列静的テスト
ダイナミックRDSONを持つMOSFET、IGBT、SiC、GaNデバイスのコスト最適化のためのテストヘッドベース・システムの統合。
統合の向上
アバランチや熱抵抗テストの要件に対応し、補助装置を統一したマルチサイトとマルチタスク対応するシステム。
オープンアーキテクチャ
C++プログラミングとオープンハードウェア設計により、顧客固有のソフトウェアテスト方法の展開やテストヘッドボードでのカスタム回路実装を可能にします。
特長
最大電圧および電流定格：
- ±2000V/20A（静的DC）を16サイトでTRUE並列対応
- 直列最大160Aの大電流DC
- TRUE並列に1000V/10AでのダイナミックRDSON
- 100kHz-1MHz ZMU (±40V DCバイアス 最大±2000Vのオプション)
- アバランチと熱抵抗の統合オプション
STS8200フルフローティングVIリソースを含み、高密度並列テストシステム向けのテストヘッド先端回路をサポートし、ソフトやハードドッキングハンドラーとの接続に対応します。
すべてのAccoTESTのテストシステムには、包括的でライセンスなしのUIインターフェースが含まれ、デバッグツール、波形生成、分析機能付きのデータベース生成ツールを完全にサポートします。
