アナログおよびパワーテストシステム

PAM

PAM

アナログ・デジタルおよびパワーディスクリート

リーク電流測定モジュール

特長

4 Current Ranges:
- ±1uA, ±100nA, ±10nA, ±1nA
2 Voltage Ranges:
- ±100mV, ±10mV

その他のオプション

TMU AFM (10NS) 2.0

高精度時間測定モジュール

PFM

PicoF(微少容量）測定モジュール

MIPI Test Kit

STS8200プロトコル変換キット

IPM Test Kit 2.0_PLUS

STS8200IPMテストキット

HSD

STS8200高速デジタイザモジュール

HCM100

STS8200大電流モジュール

GaN FET Test Kit 2.0

STS8200GaNテストキット

DOL

Dual_OP- AMP_Loopテストモジュール

QVM

STS8200アナログ測定リソース

QTMU_PLUS

STS8200アナログ時間測定リソース

HVI1K

STS8200フローティング高電圧VIソース測定モジュール

FPVI10_PLUS

STS8200フローティングパワーデュアルVIソース測定モジュール

FOVI100

STS8200フローティングオクタルVIソース測定モジュール

DIO3.0

STS8200デジタルリソース

DIO2.0_PLUS

STS8200デジタルリソース

CBIT128

STS8200コントロールビットモジュール

ACSM_PLUS

STS8200アナログACソースとメーター

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